特許
J-GLOBAL ID：200903059138807606
プリント基板上の物体の高さ検査方法及び高さ検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 功 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-174139
公開番号（公開出願番号）：特開平7-027520
出願日： 1993年07月14日
公開日（公表日）： 1995年01月27日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、主にプリント基板に印刷されるクリーム半田等の高さを検査する方法に関し、例えばプリント基板にスクリーン印刷されたクリーム半田の高さを精度良く測定し、計測時間を短縮できる高さ検査方法の提供を目的とする。【構成】 プリント基板3上の検査対象の物体10に連続的に色変化した光7,8を照射し、前記物体10の高さHに応じた色別の割合で反射した反射光7a,8aを光センサーで受光し、前記反射光の色別の割合を検出して前記検査対象の物体10の高さHを求めて所定の基準値と比較することである。
請求項（抜粋）：
プリント基板上の検査対象の物体に連続的に色変化した光を照射し、前記物体の高さに応じた色別の割合で反射した反射光を光センサーで受光し、前記反射光の色別の割合を検出して前記検査対象の物体の高さを求めて所定の基準値と比較することを特徴とするプリント基板上の物体の高さ検査方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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