特許
J-GLOBAL ID:200903059191049128
断層撮影装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉谷 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-059315
公開番号(公開出願番号):特開2007-236446
出願日: 2006年03月06日
公開日(公表日): 2007年09月20日
要約:
【課題】放射線による被曝を低減させることができる断層撮影装置を提供することを目的とする。【解決手段】断層撮影を行う前に、受光機構13は被検体Mからの光を受光し、その受光機構13からの被検体Mに関する光学像(可視光線の陰影)に基づいて照射条件設定部6は照射条件を設定するので、従来のように照射条件の設定のための画像(すなわちスカウト画像)を取得するためにX線を照射する必要はなく、その分だけX線による被曝を低減させることができる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
放射線を被検体に照射する照射源と、前記被検体に照射されて透過された前記放射線を検出する放射線検出手段と、照射源に対して放射線の照射条件を設定する照射条件設定手段とを備え、照射条件設定手段で設定された照射条件の下において放射線検出手段で検出される投影データの一群より断層画像を取得する断層撮影装置であって、被検体からの光を受光する受光手段を備え、受光手段からの被検体に関する光学像に基づいて照射条件設定手段は照射条件を設定することを特徴とする断層撮影装置。
IPC (1件):
FI (2件):
A61B6/03 330A
, A61B6/03 321Z
Fターム (9件):
4C093AA22
, 4C093BA17
, 4C093CA34
, 4C093EA18
, 4C093EB10
, 4C093ED02
, 4C093EE19
, 4C093FA18
, 4C093FA59
引用特許:
出願人引用 (5件)
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特開平1-293844号公報(第1-5頁、第1-3図)
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X線断層撮影方法及びX線断層撮影装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-266220
出願人:ジーイー横河メディカルシステム株式会社
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X線CT装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-019262
出願人:株式会社島津製作所
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X線CT装置およびその制御方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-114371
出願人:ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
-
X線コンピュータ断層診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-193254
出願人:株式会社東芝
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