特許
J-GLOBAL ID:200903059339115532
自動分析装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-067121
公開番号(公開出願番号):特開2000-258431
出願日: 1999年03月12日
公開日(公表日): 2000年09月22日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】装置を大型化せず、一般試料と標準試料との混同を防止して多くの試料、特にキャリブレーション用標準試料を架設可能とした自動分析装置を実現する。【解決手段】 キャリブレーション用標準試料のみを架設する第1の架設分類と、キャリブレーション用標準試料と精度管理用標準試料とを混在させて架設する第2の架設分類と、濃度のわかっていない一般試料のみを架設する第3の架設分類のうちいずれか一つを選択し選択架設サンプラ22に架設し、この架設分類を第1の登録画面により架設分類を登録し、当該登録された架設分類に応じて架設手段の駆動制御を行う制御部とを具備する。
請求項(抜粋):
試料を架設する架設手段と、前記架設手段の架設分類を入力する入力手段と、前記入力手段によって入力された架設分類に応じた制御を行う制御手段と、を具備する自動分析装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 35/02 G
, G01N 21/27 F
Fターム (12件):
2G058CB05
, 2G058CD04
, 2G058GA01
, 2G058GA11
, 2G058GD02
, 2G059AA01
, 2G059BB13
, 2G059EE01
, 2G059FF08
, 2G059MM05
, 2G059MM12
, 2G059PP01
引用特許:
審査官引用 (6件)
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特開平4-065676
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特開平4-065676
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特開平3-065654
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特開平4-065676
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自動化学分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-247811
出願人:株式会社東芝
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特開昭61-088156
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