破壊寿命評価装置及び破壊寿命評価方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：志賀正武 , 渡邊隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-331608
公開番号（公開出願番号）：特開2009-156584
出願日： 2007年12月25日
公開日（公表日）： 2009年07月16日
要約：

【課題】評価対象物の破壊寿命を評価するに当たって、現場の作業者の負担を軽減すると共に寿命評価時間の短縮を図る。【解決手段】評価対象物の表面に設定された検査領域に対してX線を照射するX線照射手段と、前記X線が前記検査領域に照射されることによって生じる回折X線の回折パターンの回折強度分布を2次元検出する2次元X線検出手段と、前記回折パターンの回折強度分布に基づいて前記評価対象物の破壊寿命を判定する破壊寿命判定手段と、前記破壊寿命判定手段による破壊寿命の判定結果を出力する出力手段と、を具備する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

評価対象物の表面に設定された検査領域に対してX線を照射するX線照射手段と、前記X線が前記検査領域に照射されることによって生じる回折X線の回折パターンの回折強度分布を2次元検出する2次元X線検出手段と、前記回折パターンの回折強度分布に基づいて前記評価対象物の破壊寿命を判定する破壊寿命判定手段と、前記破壊寿命判定手段による破壊寿命の判定結果を出力する出力手段と、を具備することを特徴とする破壊寿命評価装置。

IPC (1件)：

G01N 23/201

FI (1件)：

G01N23/201

Fターム (11件)：

2G001AA01 , 2G001BA18 , 2G001CA01 , 2G001DA02 , 2G001DA09 , 2G001GA01 , 2G001KA03 , 2G001KA04 , 2G001MA06 , 2G001NA17 , 2G001QA03

引用特許：

出願人引用 (1件)

破壊寿命評価装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-075273 出願人：株式会社IHI

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