特許
J-GLOBAL ID：200903059484377596
損傷解析支援システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
川口 嘉之
, 遠山 勉
, 松倉 秀実
, 永田 豊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-114139
公開番号（公開出願番号）：特開2004-318667
出願日： 2003年04月18日
公開日（公表日）： 2004年11月11日
要約：
【課題】三次元画像データの活用によって損傷を解析し得る損傷解析技術を提供する。また、三次元画像データを用いた損傷解析技術の提供により、簡易に損傷状態を解析し得る損傷解析支援システムを提供する。また、その損傷解析プログラム及び損傷解析方法を提供する。【解決手段】車両の損傷を解析する損傷解析支援システムであって、ポリゴン描画化された解析対象部位を対象として、その損傷の及んだ範囲を指定するための損傷範囲指定手段(S102〜S105)と、前記損傷範囲指定手段で指定した範囲に位置したポリゴン数を計数し、この計数したポリゴン数をパラメータの一つとして、損傷を解析する損傷解析手段(S106)と、実行することを特徴とする。【選択図】 図11
請求項（抜粋）：
車両の損傷を解析する損傷解析支援システムであって、
ポリゴン描画化された解析対象部位を対象として、その損傷の及んだ範囲を指定するための損傷範囲指定手段と、
前記損傷範囲指定手段で指定した範囲に位置したポリゴン数を計数し、この計数したポリゴン数をパラメータの一つとして、損傷を解析する損傷解析手段と、
を備えることを特徴とする損傷解析支援システム。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F17/60 138
, G06F17/60 318A
, B60S5/00
