特許

J-GLOBAL ID：200903059511926904

電子部品の認識装置

発明者： 本田 弘 ,  小倉 豊 ,  安西 洋
出願人/特許権者： ジューキ株式会社
代理人 (1件)： 加藤 卓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-176756
公開番号（公開出願番号）：特開平11-074699
出願日： 1998年06月24日
公開日（公表日）： 1999年03月16日
要約：

【要約】【課題】 ノズルに吸着される電子部品を透過照明あるいは反射照明して高精度で認識可能な電子部品の認識装置を提供する。【解決手段】 吸着ノズル2の吸着面側に光拡散性のテーパー面5が形成され、このテーパー面を介して電子部品1が第1あるいは第2の光源7、10により照明される。テーパー面の吸着ノズル軸心に対する角度は、第1の光源からの光を電子部品の上方に、また第2の光源からの光を側方にそれぞれ反射拡散させるような角度に設定されているので、簡単な構成で電子部品に応じて最適な照明透過、反射照明を行なうことができ、種々の電子部品に対して良好な認識を高精度で行なうことができる。

請求項（抜粋）：

吸着された電子部品を撮像手段で撮像し認識する電子部品の認識装置において、電子部品の外寸より大きな径を有し吸着面側に光拡散性のテーパー面が形成された吸着ノズルと、吸着ノズルにより吸着された電子部品を照明するための第1と第2の光源とを備え、前記テーパー面は、吸着された電子部品がそのテーパー面を介して第1の光源により透過照明され、第2の光源により反射照明されるように設定されることを特徴とする電子部品の認識装置。

IPC (2件)：

H05K 13/04 ,  H05K 13/08

FI (2件)：

H05K 13/04 Z ,  H05K 13/08 B

引用特許：

出願人引用 (3件)

• チップの観察装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-196643   出願人：松下電器産業株式会社
• 実装部品位置補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-256763   出願人：株式会社東芝
• 特開平2-220182
  

審査官引用 (3件)

• チップの観察装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-196643   出願人：松下電器産業株式会社
• 実装部品位置補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-256763   出願人：株式会社東芝
• 特開平2-220182