特許
J-GLOBAL ID：200903059533572383
画像処理装置および画像処理方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
森下 賢樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-064573
公開番号（公開出願番号）：特開2005-251123
出願日： 2004年03月08日
公開日（公表日）： 2005年09月15日
要約：
【課題】 ステレオ画像における画像間の対応関係を特定するにあたり、その計測誤差を効果的に補整する。【解決手段】 基準撮像点抽出部208は基準画像に映し出された物体表面から複数の基準撮像点を特定する。変換制御部212は、複数の基準撮像点および比較画像上の画像対応点の各座標に基づくアフィン変換関数により、測距処理対象となる基準撮像点の座標を比較画像の座標に変換した変換対応点を特定する。測距部220、基準撮像点の座標と変換対応点の座標に基づいて物体までの距離を測定する。この際、係数計算部214は、アフィン変換関数の仮の係数を計算し、変換対応点計算部216は仮の係数に基づくアフィン変換関数により仮の変換対応点の座標を計算する。誤差判定部は、画像対応点の座標と仮の変換対応点の座標のずれに基づいて、基準点を再特定したあとアフィン変換関数の係数を再計算する。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
物体を異なる角度から撮像した基準画像と比較画像を取得するステレオ画像取得部と、
前記基準画像に映し出された物体表面から複数の基準点を抽出する基準点抽出部と、
前記比較画像において前記複数の基準点に対応する画像対応点を特定する画像対応点特定部と、
前記複数の基準点と画像対応点の各座標に基づいて、アフィン変換関数の係数を計算する係数計算部と、
測距処理対象となる基準点の座標を前記アフィン変換関数により変換して変換対応点の座標を計算する対応点計算部と、
前記測距処理対象となる基準点の座標と前記変換対応点の座標に基づいて前記物体までの距離を測定する測距部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06T1/00 315
, G01B11/00 H
2F065AA06
, 2F065BB05
, 2F065FF01
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ08
, 2F065JJ26
, 2F065QQ00
, 2F065QQ03
, 2F065QQ25
, 2F065RR07
, 2F065UU05
, 5B057CA13
, 5B057CA16
, 5B057CD01
, 5B057CD14
, 5B057DA17
, 5B057DB03
, 5B057DC05
, 5B057DC22
, 5B057DC32
出願人引用 (2件)
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3次元復元方法及び装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2002-047591
出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
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画像処理方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平3-191478
出願人：工業技術院長, スタンレー電気株式会社
審査官引用 (1件)
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3次元復元方法及び装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2002-047591
出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
引用文献：
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