特許
J-GLOBAL ID：200903059607453837
成形機監視装置、方法及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
青木 俊明
, 清水 守
, 川合 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-113309
公開番号（公開出願番号）：特開2006-289773
出願日： 2005年04月11日
公開日（公表日）： 2006年10月26日
要約：
【課題】良品と不良品とを判別するための閾(しきい)値を成形ショット毎に演算して設定することによって、成形機のオペレータが閾値の設定を容易に行うことができるとともに、適切な閾値を使用して、良品と不良品とを判別することができ、不良率を適切な値とすることができ、高い精度で成形品の判別を行うことができるようにする。【解決手段】成形機の成形状態を示す数値を検出する数値検出部と、検出された前記数値に基づき、閾値と不良率との関係を導出する関係導出部と、あらかじめ設定された前記不良率の目標値に対応する閾値を導出された前記関係に従って設定する閾値設定部と、検出された前記数値を設定された前記閾値と比較して、良品と不良品との判別を行う判別部とを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
(a)成形機の成形状態を示す数値を検出する数値検出部と、
(b)検出された前記数値に基づき、閾値と不良率との関係を導出する関係導出部と、
(c)あらかじめ設定された前記不良率の目標値に対応する閾値を導出された前記関係に従って設定する閾値設定部と、
(d)検出された前記数値を設定された前記閾値と比較して、良品と不良品との判別を行う判別部とを有することを特徴とする成形機監視装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (8件)：
4F206AM23
, 4F206AP20
, 4F206AR20
, 4F206JA07
, 4F206JL09
, 4F206JP01
, 4F206JP13
, 4F206JP22
