特許
J-GLOBAL ID:200903059954450007

電源供給装置、電池、電気機器、およびメモリ効果検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 坂口 博 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-247050
公開番号(公開出願番号):特開2002-075466
出願日: 2000年08月16日
公開日(公表日): 2002年03月15日
要約:
【要約】【課題】 2次電池に対して通常動作をさせながら、メモリ効果の発生をより正確に検出する。【解決手段】 放電中の電池の電圧を測定し、放電電流値に対して電池電圧が低すぎることを検知すると、メモリ効果が発生していると見なす。即ち、本発明が適用される電源供給装置は、本体回路に対して電力を供給するインテリジェント電池12と、放電中の電流値を測定する電流測定回路30と、放電中の電圧値を測定する電圧測定回路40と、検出される電池容量が所定量以下のときに測定された放電中の電流値に対して測定された放電中の電圧値が所定の値より低いか否かを判断してメモリ効果の発生を検出するコントローラ15とを備えた。
請求項(抜粋):
本体回路に対して電力を供給する2次電池と、前記2次電池における放電中の電流値を測定する電流測定回路と、前記2次電池における放電中の電圧値を測定する電圧測定回路と、前記電流測定回路により測定された放電中の電流値に対して前記電圧測定回路により測定された放電中の電圧値が所定の値より低いか否かを判断することによりメモリ効果が発生しているか否かを判断する判断手段とを備えたことを特徴とする電源供給装置。
IPC (4件):
H01M 10/48 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/44 ,  H02J 7/00
FI (4件):
H01M 10/48 P ,  G01R 31/36 A ,  H01M 10/44 P ,  H02J 7/00 Y
Fターム (31件):
2G016CA04 ,  2G016CB12 ,  2G016CB21 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC05 ,  2G016CC07 ,  2G016CC16 ,  2G016CC23 ,  2G016CD06 ,  2G016CD09 ,  2G016CE07 ,  2G016CE31 ,  2G016CF06 ,  5G003AA01 ,  5G003BA01 ,  5G003CA01 ,  5G003CA11 ,  5G003CB08 ,  5G003CC02 ,  5G003GA01 ,  5G003GC05 ,  5H030AA01 ,  5H030AS11 ,  5H030BB01 ,  5H030BB21 ,  5H030BB26 ,  5H030FF42 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (1件)

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