特許
J-GLOBAL ID:200903060253041054

画像検査/認識方法、これに用いる参照データ作成方法およびこれらの装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 草野 卓
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-146446
公開番号(公開出願番号):特開平8-069533
出願日: 1995年06月13日
公開日(公表日): 1996年03月12日
要約:
【要約】【目的】 部品の画像からその部品の良/不良を照明むらやしみ等に影響されることなく検査する。【構成】 検査画像から予め決められた濃度やエッジなどの特徴画像を抽出し(202)、これを量子化し(203)、その量子化特徴画像を学習画像から予め求め、その特徴を画像の特徴値ごとの各特徴点の重みを参照して、特徴点重みを加算投票する重み付き一般化ハフ変換を行い(204)、その変換結果から類似度を求め(205)、これがしきい値以上か否かで良否を判定する(206)。
請求項(抜粋):
入力画像から画像特徴を抽出して特徴画像を得る第1ステップと、上記特徴画像を量子化して量子化特徴画像を得る第2ステップと、上記量子化特徴画像の特徴点の類似度または相違度を複数の学習画像により予め求めた対応特徴の参照データを用いて求める第3ステップと、を有する画像検査/認識方法において、上記複数の学習画像に対するその量子化特徴画像の各特徴点での特徴値ヒストグラムから特徴点の重みを予め計算しておき、上記重みを用いて上記第3ステップにおける類似度または相違度を重み付き類似度または重み付き相違度として求めることを特徴とする画像検査/認識方法。
FI (2件):
G06F 15/70 465 A ,  G06F 15/70 330 F
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 文字認識方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-197930   出願人:富士通株式会社
  • 特開昭63-109500
  • 特開平4-178784
審査官引用 (3件)
  • 文字認識方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-197930   出願人:富士通株式会社
  • 特開昭63-109500
  • 特開平4-178784

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