特許
J-GLOBAL ID：200903060259432012

光による微粒子の操作方法及び操作装置

発明者：
大瀧 久美子

大瀧 久美子 について


出願人/特許権者：
株式会社ニコン

株式会社ニコン について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-105968
公開番号（公開出願番号）：特開2001-290083
出願日： 2000年04月07日
公開日（公表日）： 2001年10月19日
要約：
【要約】【課題】 簡単に光軸方向のトラップ力を強化し、そのトラップ力が光軸方向に及ぶ範囲も拡大することができると共に、媒質中の微粒子が浅い位置にある場合のトラップ力を保持しつつ、媒質の深い位置においても十分に強いトラップ力を得ることができる光による微粒子の操作方法及び操作装置を提供する。【解決手段】 光ピンセット用光源LS1からの平行光束L11をプラスの球面収差SAが付与された円錐状の集光光束L12にする集光光学系Oが設置され、この集光光学系Oを通過する最大NA成分光の集光点P2が近軸光線の集光点P1から更に球面収差SAの距離だけ遠方に延びるようにしている。このため、集光点P1から集光点P2に至る範囲内に又はその近傍に位置する微粒子Sは集光光束L12によって完全に又は部分的に照射され、従来の球面収差のない円錐状の集光光束によって照射される場合よりも大きな光軸方向のトラップ力Fが作用する。
請求項（抜粋）：
プラスの球面収差をもつ円錐状の集光光束を媒質中の微粒子に照射して、前記微粒子を捕捉し操作することを特徴とする光による微粒子の操作方法。
IPC (4件)：
G02B 21/32 ,  B01J 19/12 ,  B81C 5/00 ,  G01N 1/02
FI (4件)：
G02B 21/32 ,  B01J 19/12 B ,  B81C 5/00 ,  G01N 1/02 M
Fターム (7件)：
2H052AF14 ,  2H052AF19 ,  4G075AA27 ,  4G075CA36 ,  4G075DA02 ,  4G075EB33 ,  4G075EB34
引用特許：
出願人引用 (4件)
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引用文献：
出願人引用 (3件)

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