特許
J-GLOBAL ID：200903060610037907
テストチャート及びその測定方法、テストチャート測定装置並びにプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-252447
公開番号（公開出願番号）：特開2009-083141
出願日： 2007年09月27日
公開日（公表日）： 2009年04月23日
要約：
【課題】ラインヘッドの全記録素子で作成するテストパターンの有効エリアよりも、読取り幅が狭いスキャナを使って、記録素子の特性(記録素子によるドット位置、ドット径)を精度良く測定する技術を提供する。【解決手段】本発明によるテストチャートは、異なる記録素子のそれぞれに対応する複数本のラインパターンが互いに離れて所定間隔以上で並んだラインパターンブロックを含んでおり、ラインパターンブロックにおける両端部の各領域にはライン特徴量を異ならせた複数本の基準ラインパターンが形成されている。複数本の基準ラインパターンは、第1のライン特徴量を有する基準ラインパターンと、第2のライン特徴量を有する基準ラインパターンを含む。【選択図】図13
請求項（抜粋）：
複数の記録素子が配列されたラインヘッドと記録媒体とを相対移動させるとともに、前記記録素子を記録動作させることにより、前記記録素子に対応したラインパターンを形成してなるテストチャートであって、
前記テストチャートは、異なる記録素子のそれぞれに対応する複数本のラインパターンが互いに離れて所定間隔以上で並んだラインパターンブロックを含んでおり、
前記ラインパターンブロックにおける両端部の各領域にはライン特徴量を異ならせた複数本の基準ラインパターンが形成されていることを特徴とするテストチャート。
IPC (2件)：
FI (2件)：
B41J29/46 C
, B41J3/04 101Z
2C056EA04
, 2C056EA24
, 2C056EB27
, 2C056EB36
, 2C056EB40
, 2C056FA04
, 2C056FA13
, 2C056HA45
, 2C056HA46
, 2C056HA47
, 2C056KD10
, 2C061AQ05
, 2C061AR01
, 2C061KK13
, 2C061KK18
, 2C061KK26
, 2C061KK28
, 2C061KK35
