半導体放射線検出装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：多田公子 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-165353
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356680
出願日： 1999年06月11日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
要約：

【要約】【課題】X線やγ線等の放射線のエネルギースペクトル或いは放射線強度の2次元情報を得るための半導体放射線検出器において、検出器結晶に固有なリーク電流による雑音を低減し、位置分解能およびエネルギー分解能を向上させる。【解決手段】半導体放射線検出器100に組み合わせる電荷増幅器510に、検出器100のリーク電流に起困する電子雑音を除去するために、入力信号の波高値に対して閾値を持たせた閾値増幅器800を設ける。閾値は電子雑音レベルに対応し、温度変動等によるリーク電流の変化、即ち雑音レベルの変化に対応して設定することができる。

請求項（抜粋）：

放射線の照射により電荷を生成する半導体結晶と、前記結晶の第1の面および第2の面にそれぞれ設けられた電荷収集電極と、これら電極間にバイアス電圧を印加する手段と、前記電荷収集電極からの出力信号を電圧に変換する電荷増幅器とを備えた半導体放射線検出装置において、前記電荷増幅器は、前記電荷収集電極からの出力信号のうち所定の閾値以下の信号を遮断する手段を備えたことを特徴とする半導体放射線検出装置。

Fターム (11件)：

2G088FF03 , 2G088FF04 , 2G088FF15 , 2G088GG21 , 2G088JJ04 , 2G088JJ05 , 2G088JJ37 , 2G088KK01 , 2G088KK21 , 2G088LL11 , 2G088LL21

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平3-017587
特開平3-017587
特開昭62-036876

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