特許

J-GLOBAL ID：200903060976796274

冷却装置付分析計

発明者： 小島 淳二 ,  大槻 久仁夫 ,  黒住 拓司
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-220561
公開番号（公開出願番号）：特開平10-048221
出願日： 1996年08月03日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：

【要約】【課題】 高温の試料を、冷却器や温調装置を経由させることなく、そのまま導入して安定に信頼性よく測定することができるコスト安な冷却装置付分析計を提供する。【解決手段】 フローセル8への試料液の導入路2の一部22を分析計本体4内に設けた排気ファン5によって空冷させるように構成する。

請求項（抜粋）：

外部からフローセルに試料液を導入して光学的な分析測定をおこなう分析計であって、前記フローセルへの試料液の導入路の一部を分析計本体内に設けた排気ファンによって空冷させるように構成したことを特徴とする冷却装置付分析計。

IPC (5件)：

G01N 35/08 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/05 ,  G01N 21/35

FI (5件)：

G01N 35/08 A ,  G01N 1/00 101 G ,  G01N 21/01 C ,  G01N 21/05 ,  G01N 21/35 Z

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 金属成分分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-064179   出願人：トキコ株式会社