特許
J-GLOBAL ID:200903061205900416
超音波診断装置およびエッジ強調処理装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
有近 紳志郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-028975
公開番号(公開出願番号):特開平9-220227
出願日: 1996年02月16日
公開日(公表日): 1997年08月26日
要約:
【要約】【課題】 超音波エコーに基づく検波信号のレベルにアダプティブなエッジ強調処理を行う。【解決手段】 エッジ強調処理部10において、レベル判定部11は、超音波エコーに基づく検波信号Pのレベルに応じたアドレス信号Qを出力する。重み出力部12は、アドレス信号Qに応じた重みK1,Kaを出力する。エッジ強調回路13は、検波信号Pに対してエッジ強調を施し、エッジ強調信号ENを出力する。乗算器14,15および加算器16は、エッジ強調信号ENを検波信号に荷重加算し、音線信号G(=K1×EN+Ka×P)を生成する。【効果】 荷重加算の重みを適切に設定することにより、エッジ強調の度合いを柔軟に変化させることが出来る。
請求項(抜粋):
超音波エコーに基づく検波信号に対してエッジ強調を施すエッジ強調手段と、そのエッジ強調手段の出力を前記検波信号に荷重加算する荷重加算手段と、前記検波信号のレベルを判定するレベル判定手段と、そのレベル判定手段の判定結果に応じて前記荷重加算の重みを発生し前記荷重加算手段に与える重み出力手段とを具備したことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (4件):
A61B 8/00
, G01N 29/06
, G06T 1/00
, G06T 5/00
FI (4件):
A61B 8/00
, G01N 29/06
, G06F 15/62 390 D
, G06F 15/68 310 J
引用特許:
審査官引用 (2件)
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超音波診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-019181
出願人:株式会社日立メディコ
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特開平1-261083
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