特許

J-GLOBAL ID：200903061258176205

プローブおよびこれを用いた二次電池の検査装置

発明者： 池尻 一希
出願人/特許権者： ジャパンシステムエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 萼 経夫 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-198585
公開番号（公開出願番号）：特開2000-028692
出願日： 1998年07月14日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：

【要約】【課題】 検査設備の安全性、および特性の信頼性を確保するようにした二次電池の検査装置を提供する。【解決手段】 トレイに載置した複数の二次電池1の個々の上面両極に圧接させ、電流の充放電を行わせるための両極のプローブ6のうち、少なくとも一方の先端にサーミスタ19を内蔵させた。二次電池1の充放電の最中には個々に電圧電流が測定され、一方、サーミスタ19が二次電池1の上面にセットされているので、同時に、個々の二次電池1の発熱が的確に測定でき、従来の雰囲気温度を測定する方法よりも、温度の影響が確実に分かると共に、過熱による異常を早期に診断することができる。また、これにより温度に対する充放電の特性を求め、用途の適合性を判別することができる。

請求項（抜粋）：

スライド可能な2重筒にスプリングを内蔵して一方の筒を進退可能に設け、該一方の筒の先端に熱検出部材を内蔵させると共に先端に三角状の突起を複数形成させたことを特徴とするプローブ。

IPC (4件)：

G01R 31/36 ,  G01R 1/06 ,  H01M 10/48 ,  H01M 10/40

FI (4件)：

G01R 31/36 L ,  G01R 1/06 F ,  H01M 10/48 P ,  H01M 10/40 Z

Fターム (25件)：

2G011AA04 ,  2G011AB01 ,  2G011AC02 ,  2G011AF03 ,  2G011AF07 ,  2G016CB02 ,  2G016CB03 ,  2G016CC01 ,  2G016CC23 ,  2G016CF01 ,  2G016CF06 ,  5H029AJ12 ,  5H029AJ14 ,  5H029BJ27 ,  5H029CJ16 ,  5H029CJ30 ,  5H029HJ14 ,  5H030AA06 ,  5H030AS18 ,  5H030DD12 ,  5H030DD14 ,  5H030DD15 ,  5H030FF22 ,  5H030FF42 ,  5H030FF64

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 導電接触ピン
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-032738   出願人：アスカ電子株式会社, 株式会社サンケイエンジニアリング
• バッテリテスタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-065454   出願人：日置電機株式会社

審査官引用 (2件)

• 導電接触ピン
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-032738   出願人：アスカ電子株式会社, 株式会社サンケイエンジニアリング
• バッテリテスタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-065454   出願人：日置電機株式会社