特許
J-GLOBAL ID:200903061288990128
断層像撮像装置の制御方法および制御装置ならびに断層像撮像装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山口 巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-135470
公開番号(公開出願番号):特開2003-325480
出願日: 2003年05月14日
公開日(公表日): 2003年11月18日
要約:
【要約】【課題】 検査すべき小さな構造も比較的長時間にわたり確実に観察でき、時間に関係する層位置決めが簡単に可能となるようにする。【解決手段】 グラフィック利用者画面Bを用いて対象物Oの基準像R,R1〜R6が表示され、この表示された基準像R1〜R6内の層位置マークM1〜M6を用いて後続の撮像すべき断層像S1〜S12の位置が決定される、対象物Oの断層像を撮像する断層像撮像装置の制御方法において、基準像R1〜R6内にまず、時間に関係する層位置マークM1〜M6のシーケンスが置かれ、そのシーケンスの個々の層位置マークM1〜M6にそれぞれ1つの時間マークTTが割付けられ、時間に関係する層位置マークM1〜M6のこのシーケンスを用いて、後続の撮像すべき断層像S1〜S12の位置が基準時点T0に対して相対的にそれぞれの断層像S1〜S12の撮像時点Tに関係して決定される。
請求項(抜粋):
グラフィック利用者画面(B)を用いて対象物(O)の基準像(R,R1〜R6)が表示され、この表示された基準像(R,R1〜R6)内の層位置マーク(M,M1〜M6)を用いて後続の撮像すべき断層像(S1〜S12)の位置が決定される、対象物(O)の断層像を撮像する断層像撮像装置(1)の制御方法において、基準像(R1〜R6)内にまず時間に関係する層位置マーク(M1〜M6)のシーケンスが置かれ、そのシーケンスの個々の層位置マーク(M1〜M6)にそれぞれ1つの時間マーク(TT)が割付けられ、時間に関係する層位置マーク(M1〜M6)のこのシーケンスを用いて、後続の撮像すべき断層像(S1〜S12)の位置が基準時点(T0)に対して相対的にそれぞれの断層像(S1〜S12)の撮像時点(T)に関係して決定されることを特徴とする断層像撮像装置の制御方法。
IPC (5件):
A61B 5/055
, A61B 6/03 330
, A61B 6/03 370
, G01R 33/28
, G01R 33/30
FI (7件):
A61B 6/03 330 A
, A61B 6/03 370 B
, A61B 5/05 370
, A61B 5/05 383
, A61B 5/05 390
, G01N 24/02 Y
, G01N 24/02 510 Y
Fターム (21件):
4C093AA22
, 4C093DA02
, 4C093FA47
, 4C093FG04
, 4C096AA01
, 4C096AA11
, 4C096AA18
, 4C096AB38
, 4C096AB50
, 4C096AC10
, 4C096AD07
, 4C096AD12
, 4C096AD23
, 4C096AD26
, 4C096BA18
, 4C096BB21
, 4C096BB32
, 4C096DD01
, 4C096DD09
, 4C096DD13
, 4C096FC20
引用特許:
出願人引用 (3件)
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独国特許第19846687号明細書
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独国特許出願公開第10048438号明細書
-
独国特許第59529636号明細書
審査官引用 (3件)
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