粒度分布計測方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：池浦敏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-276510
公開番号（公開出願番号）：特開2004-117005
出願日： 2002年09月24日
公開日（公表日）： 2004年04月15日
要約：

【課題】サンプリングされる粉体の濃度が安定して得られ、粒径測定が良好に行なわれる、オンライン方式の粒度分布測定方法を提供する。【解決手段】粉体を輸送中の配管から直接サンプリングし、レーザー回折光散乱方式により、粒度分布を測定する方法において、サンプリングするノズルの先端の手前に分散部材を設けて、該ノズルと該分散部材との間の該配管中の粉体濃度を均一にすることを特徴とする粒度分布計測方法。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

粉体を輸送中の配管から直接サンプリングし、レーザー回折光散乱方式により、粒度分布を測定する方法において、サンプリングするノズルの先端の手前に分散部材を設けて、該ノズルと該分散部材との間の該配管中の粉体濃度を均一にすることを特徴とする粒度分布計測方法。

IPC (3件)：

G01N15/02 , G01N15/00 , G01N15/14

FI (3件)：

G01N15/02 A , G01N15/00 C , G01N15/14 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

インライン粒度測定機用サンプリングシステム
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-119675 出願人：住金物産インテック株式会社
微粒子濃度測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-062671 出願人：三田工業株式会社
粒度分布測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-089425 出願人：株式会社島津製作所

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