特許
J-GLOBAL ID:200903061540367366

縦型MOS電界効果トランジスタ

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-311769
公開番号(公開出願番号):特開2001-135814
出願日: 1999年11月02日
公開日(公表日): 2001年05月18日
要約:
【要約】【課題】 裏面にショットキー接合を備えた縦型MOS電界効果トランジスターにおいて、ショットキー金属のバリア高さを考慮した最適条件の設定と、デバイスの実用化を図る。【解決手段】 低濃度ドレイン領域を形成するN型導電型半導体基板の一面側に縦型MOS構成が形成され、他面側に該ドレイン領域とショットキー接合が形成された縦型MOS電解効果トランジスターにおいて、該半導体基体は膜厚1500Å以上、且つSi含有量の0.5 %以上のAl-Si合金で構成したことを特徴とする。
請求項(抜粋):
低濃度ドレイン領域を形成するN型導電型半導体基板の一面側に縦型 MOS構成が形成され、他面側に該ドレイン領域とショットキー接合が形成された縦型MOS電界効果トランジスタにおいて、該半導体基体はシングルウエハーであり、該ショットキー接合は膜厚1500 Å以上、且つSi含有量0.5 %以上のAl-Si合金で構成されたことを特徴とする縦型MOS電界効果トランジスタ。
IPC (2件):
H01L 29/78 ,  H01L 29/872
FI (3件):
H01L 29/78 652 L ,  H01L 29/48 F ,  H01L 29/78 655 C
Fターム (6件):
4M104BB03 ,  4M104CC01 ,  4M104FF02 ,  4M104GG09 ,  4M104GG18 ,  4M104HH17
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 半導体装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-280109   出願人:富士電機株式会社
  • 特開平3-155677
  • 特開平3-060149
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