半導体装置及びその試験方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊東忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-054878
公開番号（公開出願番号）：特開2001-242226
出願日： 2000年02月29日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
要約：

【要約】【課題】本発明は半導体装置及びその試験方法に関し、本来異なる電源電圧が供給されていた互いに接続された回路に、共通の電源パッドを用いて同じ電源電圧を供給しても、テストモード時に本来行うべき試験を行うことを可能とすることを目的とする。【解決手段】通常モードと、試験を行うテストモードとを有する半導体装置において、入力信号、テスト信号及び出力イネーブル信号が入力され、出力イネーブル信号に応答して該入力信号を出力する第1の回路と、第1の回路に接続され、第1の回路から得られる入力信号を出力する第2の回路と、第1の回路及び第2の回路に共通の電源電圧を供給する電源パッドとを備え、第1の回路は、テスト信号がテストモードを示すと、出力イネーブル信号に関わらず、第2の回路の出力インピーダンスをハイインピーダンスに固定するように構成する。

請求項（抜粋）：

通常モードと、試験を行うテストモードとを有する半導体装置において、入力信号、テスト信号及び出力イネーブル信号が入力され、該出力イネーブル信号に応答して該入力信号を出力する第1の回路と、該第1の回路に接続され、該第1の回路から得られる該入力信号を出力する第2の回路と、該第1の回路及び該第2の回路に共通の電源電圧を供給する電源パッドとを備え、該第1の回路は、該テスト信号がテストモードを示すと、該出力イネーブル信号に関わらず、該第2の回路の出力インピーダンスをハイインピーダンスに固定することを特徴とする、半導体装置。

IPC (7件)：

G01R 31/3185 , G01R 31/28 , G11C 11/401 , G11C 29/00 671 , H01L 21/66 , H01L 27/04 , H01L 21/822

FI (6件)：

G11C 29/00 671 Z , H01L 21/66 W , G01R 31/28 W , G01R 31/28 B , G11C 11/34 371 A , H01L 27/04 T

Fターム (29件)：

2G032AA07 , 2G032AB01 , 2G032AD01 , 2G032AG07 , 2G032AK14 , 4M106AA08 , 4M106AB07 , 4M106AC08 , 4M106BA14 , 4M106CA04 , 4M106DJ11 , 4M106DJ21 , 5B024AA15 , 5B024BA21 , 5B024CA07 , 5B024EA04 , 5F038BE09 , 5F038CA10 , 5F038CD02 , 5F038DF05 , 5F038DF17 , 5F038DT02 , 5F038EZ20 , 5L106AA01 , 5L106DD11 , 5L106GG05 , 9A001BB05 , 9A001KZ54 , 9A001LL05

引用特許：

審査官引用 (1件)

半導体集積回路装置とその試験方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-057210 出願人：セイコーエプソン株式会社

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