特許
J-GLOBAL ID：200903045381865559
半導体集積回路装置とその試験方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-057210
公開番号（公開出願番号）：特開平11-258307
出願日： 1998年03月09日
公開日（公表日）： 1999年09月24日
要約：
【要約】【課題】半導体集積回路装置の静止電流を測定する場合に、負荷容量が大きいことから安定時間の遅い双方向端子及び出力端子の出力バッファーと、内部回路とを別々に測定することが可能な半導体集積回路装置を提供する。【解決手段】108の電源遮断回路により、出力バッファーへの電源供給を止めて内部回路の静止電流を測定する。このとき双方向端子には、常時任意の入力電圧を試験装置から供給する。出力バッファーの静止電流は、108より電源供給を行ない、出力を選択回路109の試験信号103によって制御し、出力の“1”と“0”の2回の測定を行なう。【効果】半導体集積回路装置の静止電流測定において、短時間で多くの内部状態の静止電流測定ができる。また、出力バッファーの静止電流は、最低2回の測定で行なうことができる。
請求項（抜粋）：
a)双方向端子及び出力端子を有する半導体集積回路装置において、b)双方向端子及び出力端子の出力バッファーへの電源供給を止める試験機能Aを有することを特徴とした半導体集積回路装置。
IPC (3件)：
G01R 31/28
, H01L 27/04
, H01L 21/822
G01R 31/28 V
, H01L 27/04 T
