特許

J-GLOBAL ID：200903061832219686

孔内形状測定方法及びその装置

発明者： 丹羽 英夫
出願人/特許権者： 菱栄エンジニアリング株式会社
代理人 (3件)： 綿貫 達雄 ,  山本 文夫 ,  関根 由布
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-040894
公開番号（公開出願番号）：特開2009-198345
出願日： 2008年02月22日
公開日（公表日）： 2009年09月03日
要約：

【課題】孔内形状あるいは孔内面の欠陥を高速で測定することができる孔内形状測定方法及びその装置を目的とする。【解決手段】 コーンプリズム5を通じてスリット光を投光する円環状光ファイバー群3と、コーンプリズム5によって導光されるリング状の光像を結像レンズ7で撮り込んで投影する画像伝達光学系8とを挿入し、視差視に基づくリング状の光像に表れる凹凸により孔内形状を測定する方法であって、逆円錐部6から投光されるスリット光のコーンプリズム5の軸線に対してなす角度と、リング状の光像の逆円錐部6への受光光がコーンプリズム5の軸線に対してなす角度とを異ならせた方法及び逆円錐部6から投光されるスリット光の投光角を設定するコーンプリズム5への入射角を決定する屈曲部を円環状光ファイバー群3の先方部に形成し、投光角と異なる受光角を有する結像レンズ7をコーンプリズム5の後方に配置した装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象となる孔の内部に、コーンプリズムを通じて孔の内周面にスリット光を投光する円環状光ファイバー群と、孔の内周面を視野とするコーンプリズムと、コーンプリズムを通じてリング状の光像を結像する結像レンズと、結像レンズによるリング状の光像を伝達する画像伝達光学系とを挿入し、このコーンプリズムの逆円錐部により受光され、コーンプリズムの基端に導光された孔の内周面の視差視に基づくリング状の光像に表れる凹凸により孔内形状を測定する方法であって、前記逆円錐部から投光されるスリット光のコーンプリズムの軸線に対してなす角度と、前記リング状の光像の逆円錐部への受光光がコーンプリズムの軸線に対してなす角度とを異ならせたことを特徴とする孔内形状測定方法。

IPC (1件)：

G01B 11/24

FI (2件)：

G01B11/24 B ,  G01B11/24 K

Fターム (21件)：

2F065AA51 ,  2F065AA53 ,  2F065AA60 ,  2F065BB08 ,  2F065DD02 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG17 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL03 ,  2F065LL09 ,  2F065LL10 ,  2F065LL47 ,  2F065MM16 ,  2F065PP26 ,  2F065QQ25 ,  2F065RR05

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 三次元形状計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-007816   出願人：株式会社モリテックス
• 管路内診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-128878   出願人：日本電信電話株式会社, エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社, 堀井清之, 株式会社石原産業