特許
J-GLOBAL ID：200903061979390968
機械高測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松浦 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-023323
公開番号（公開出願番号）：特開平10-206152
出願日： 1997年01月22日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：
【要約】【課題】 測量機の基点からの高い精度の機械高を容易に得る機械高測定方法を提供する。【解決手段】 測量機20の望遠鏡22の先端に反射ミラーユニット30を取り付ける。反射ミラーユニット30に、光軸に対し角度θだけ傾斜して反射ミラー32を取り付ける。望遠鏡22から反射ミラー32を介して基点Pを視準したときの望遠鏡22の振り角γを、測量機20の内部に設けた測角器によって測定する。角度θと、振り角γと、測量機20の中心Oから反射ミラー32までの距離aとから、三角法を用いて機械高Hを求める。
請求項（抜粋）：
測角器を備えた測量機の望遠鏡の前方に設けられ、この望遠鏡を通過する光の光路を所定の角度に偏向する反射部材を備えた機械高測定アダプタを用いて、前記測量機の望遠鏡から前記反射部材を介して基点を視準するときの、前記反射部材の水平軸周りに関する回転角が測定され、前記基点から前記測量機までの高さが、前記測量機中心から前記反射部材までの距離と、前記所定の角度と、前記回転角とに基づいて求められることを特徴とする機械高測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01C 5/00 T
, G01C 15/00 P
