特許
J-GLOBAL ID:200903062155169061

電界測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山川 政樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-014019
公開番号(公開出願番号):特開平9-211035
出願日: 1996年01月30日
公開日(公表日): 1997年08月15日
要約:
【要約】【課題】 電気化学結晶を用いて、回路に擾乱を与えることなくより高感度に電界を測定できるようにすることを目的とする。【解決手段】 シレナイト構造のビスマスチタン酸化物(Bi12TiO20)を電気光学結晶1として用い、これを(100)面に平行にカットし、(100)面を回路基板4平面に平行に対向させ、レーザ光2の直線偏光方向をxあるいはz方向に対して45度となるように設定する。
請求項(抜粋):
電界の強度によって複屈折率が変化する電気光学結晶に光を入射し、前記光の偏光状態の変化を測定することで前記電界を測定する電界測定装置において、前記電気光学結晶がビスマスチタン酸化物から構成されていることを特徴とする電界測定装置。
IPC (2件):
G01R 15/24 ,  G01R 31/302
FI (2件):
G01R 15/07 C ,  G01R 31/28 L
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 集積回路の回路試験装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-343124   出願人:日本電信電話株式会社, 株式会社トーキン
  • 特開平3-084518
  • 特開平3-084518

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