特許
J-GLOBAL ID:200903062288206482

温度分布測定方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 池田 治幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-008573
公開番号(公開出願番号):特開2002-214047
出願日: 2001年01月17日
公開日(公表日): 2002年07月31日
要約:
【要約】【課題】 被測定部材の表面温度を高い精度で測定するための温度分布測定装置を提供する。【解決手段】 温度分布測定装置10においては、温度分布の測定温度範囲の略最低温度における黒体の波長に対する輻射強度曲線L1のうち、常温における輻射強度EBGより高い高輻射領域から選択された波長の光を通過させる第1フィルタ34と、第1波長λ1 の1/12以下であり且つその第1波長λ1 の半値幅Δλ1 および第2波長の半値幅Δλ2 の和以上の波長差となるように第1波長λ1からずらされた波長の光を通過させる第2フィルタ36をとが用いられるので、十分な輻射強度の信号が得られてそのS/N比が高くなり、しかも互いに近接した第1波長の光および第2波長の光が得られるので、「近接する2波長では放射率の波長依存性は無視でき、ε12 と近似できる」という2色温度計の測定原理の前提条件が確実に成立することになり、十分に高精度の温度分布が得られる。
請求項(抜粋):
被測定部材の表面から放射される光のうちから選択された第1波長および第2波長を用いてそれぞれ得られた該被測定部材の2画像のうちの同じ部位で検出される輻射強度の比に基づいて該被測定部材の温度を画素単位でそれぞれ算出し、該被測定部材表面の温度分布を測定するための温度分布測定方法であって、前記被測定部材の表面から放射される光のうちから前記第1波長の光を選択するために、測定温度範囲の最低温度における黒体の波長に対する輻射強度曲線のうち、常温における輻射強度より高い高輻射領域から選択された波長の光を通過させる第1フィルタを用いて、前記被測定部材の表面から放射される光を透過させる第1波長選択工程と、前記被測定部材の表面から放射される光のうちから第2波長の光を選択するために、前記高輻射領域内において、前記第1波長の1/12以下であり且つ前記第1波長の半値幅および前記第2波長の半値幅の和以上の波長差以上の波長差となるように該第1波長からずらされた波長の光を通過させる第2フィルタを用いて、前記被測定部材の表面から放射される光を透過させる第2波長選択工程とを、含むことを特徴とする温度分布測定方法。
IPC (2件):
G01J 5/60 ,  G01J 5/48
FI (2件):
G01J 5/60 A ,  G01J 5/48 A
Fターム (10件):
2G066AA04 ,  2G066AA15 ,  2G066AC11 ,  2G066BA14 ,  2G066BA23 ,  2G066BB07 ,  2G066BC15 ,  2G066BC21 ,  2G066BC23 ,  2G066CA02
引用特許:
審査官引用 (3件)

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