特許
J-GLOBAL ID：200903062334621651

発光寿命測定装置およびその測定方法

発明者：
太田 信廣

太田 信廣 について

, 
中林 孝和

中林 孝和 について


出願人/特許権者：
国立大学法人 北海道大学

国立大学法人 北海道大学 について


代理人 (1件)： 鷲田 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-203816
公開番号（公開出願番号）：特開2008-032440
出願日： 2006年07月26日
公開日（公表日）： 2008年02月14日
要約：
【課題】細胞活性度等の変化を反映した発光特性のわずかな変化を高感度かつ定量的にその場測定することができる発光寿命測定装置およびその測定方法を提供すること。【解決手段】発光寿命測定装置は、パルス励起光を発するパルスレーザー光源部と、パルス励起光を試料に照射し、試料から放出される発光を出力する測定用光学系と、時間ゲート法によって、試料の複数地点における発光寿命の値およびその空間分布を取得する発光寿命分布画像取得手段と、時間相関単一光子計数法によって、前記試料の特定地点における発光減衰曲線を測定する発光減衰曲線測定手段とを備える構成を採る。発光寿命測定装置は、時間ゲート法により試料の特定領域内の各地点における発光寿命を測定することで発光寿命分布画像を作成し、次いで時間相関単一光子計数法により試料の特定地点における発光寿命を定量的に測定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
パルス励起光を発するパルスレーザー光源部と、 前記パルス励起光を試料に照射し、前記試料から放出される発光を出力する測定用光学系と、 前記パルスレーザー光源部が前記パルス励起光を発してから複数の時間帯において前記発光の光子数を計測することで発光寿命を算出する時間ゲート法によって、前記試料の複数地点における発光寿命の値およびその空間分布を取得する発光寿命分布画像取得手段と、 前記パルス励起光を検出してから前記発光の光子を検出するまでの時間、または前記発光の光子を検出してから前記パルス励起光を検出するまでの時間を測定することで発光減衰曲線を測定する時間相関単一光子計数法によって、前記試料の特定地点における発光減衰曲線を測定する発光減衰曲線測定手段と、 を有する発光寿命測定装置。
IPC (1件)：
G01N 21/64
FI (3件)：
G01N21/64 B ,  G01N21/64 E ,  G01N21/64 F
Fターム (18件)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA07 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA03 ,  2G043FA06 ,  2G043HA05 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043NA04
引用特許：
審査官引用 (8件)
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