特許
J-GLOBAL ID:200903062442618322

耐電圧試験装置及び試験方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-242958
公開番号(公開出願番号):特開2003-021660
出願日: 2001年07月05日
公開日(公表日): 2003年01月24日
要約:
【要約】【課題】 耐電圧試験装置内に分布する浮遊容量分及び絶縁抵抗分に流れる電流による測定誤差を自動的に除去する。【解決手段】 耐電圧試験装置内の浮遊容量に流れる電流を検出し、その値をメモリに記憶した後供試物に流れる電流を検出し、該検出値から既に記憶した耐電圧試験装置内の浮遊容量に流れる電流値を差し引き、供試物にのみに流れる電流値を自動的に得る。同様にして、シールド状のケーブルを用いた測定の場合においてもケーブルの線間容量による誤差電流を自動的に除去する。更に、供試物が抵抗及び容量で形成される場合には夫々の位相毎に弁別して直流化し、同様の引算を行った後ベクトル合成値を算出する耐電圧試験装置と試験方法を実現した。なお、メモリに記憶するか否かは選択可能とした。
請求項(抜粋):
交流信号源からの正弦波信号にてトランスを励磁して高電圧を得、該高電圧を供試物に印加して電流検出器に流れる電流を測定する耐電圧試験装置において、前記電流検出器にて検出される検出値を直流化する第1の直流化手段と、該直流値をデジタル値化する第1のA/D変換器を備え、前記第1のA/D変換器にてデジタル値化された前記耐電圧試験装置内にのみ流れる電流を第1の値として記憶する記憶手段を備え、前記第1のA/D変換器にてデジタル値化された前記供試物に流れる電流を第2の値とし、該第2の値から前記第1の値を差し引く引算手段を備えることを特徴とする耐電圧試験装置
Fターム (4件):
2G015AA06 ,  2G015BA04 ,  2G015CA05 ,  2G015DA01
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (3件)

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