特許

J-GLOBAL ID：200903062657037746

測距センサ

発明者： 高岡 隆志 ,  川西 信也
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-011088
公開番号（公開出願番号）：特開平9-203631
出願日： 1996年01月25日
公開日（公表日）： 1997年08月05日
要約：

【要約】【課題】測距を正確に広範囲に行えるようにする。【解決手段】所定範囲Aの2次元平面内に位置する測距対象物13に対して測距を行うためにその2次元平面内においてそれぞれからの放射光Ra〜Reが所定範囲Aの任意の位置にある測距対象物13に向けて個別に放射光を発することができるように発光素子11a〜11eの複数個が配置され、各発光素子11a〜11eそれぞれからの放射光Ra〜Reによる測距対象物13での反射光Rc’を受光レンズ14を通して受光して測距信号が出力できる位置に単一のPSD15が配置されて構成されている。

請求項（抜粋）：

発光素子からの放射光を測距対象物に投光し、この投光で前記測距対象物で反射される反射光を半導体位置検出素子で受光し,この受光によって該半導体位置検出素子上に形成される光スポットの位置から前記測距対象物の位置を検出する三角測距方式の測距センサにおいて、所定範囲の2次元平面内に位置する測距対象物に対して少なくとも測距を行うために、前記2次元平面内においてそれぞれからの放射光が前記所定範囲の任意の位置にある測距対象物に向けて個別に放射光を発することができるように発光素子の複数個が配置され、前記各発光素子それぞれからの放射光による前記測距対象物での反射光を受光して測距信号が出力できる位置に単一の半導体位置検出素子が配置されていることを特徴とする測距センサ。

IPC (2件)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00

FI (2件)：

G01C 3/06 A ,  G01B 11/00 B

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-102275   出願人：富士通株式会社