特許
J-GLOBAL ID：200903062832444341

ディスプレイ画面検査方法およびディスプレイ画面検査装置

発明者：
宇野 真彦

宇野 真彦 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (1件)： 朝日奈 宗太 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-369996
公開番号（公開出願番号）：特開2003-167530
出願日： 2001年12月04日
公開日（公表日）： 2003年06月13日
要約：
【要約】【課題】 ディスプレイの検査を正確に、かつ精度よく行なうことができるディスプレイ画面検査方法を提供する。【解決手段】 ディスプレイ画面の所定の表示領域に関して、撮像手段を用いて撮像した、位置計測パターンを表示させたディスプレイ画面の画像を用いて、個々の画素を構成する各セルの位置を計測し、前記撮像手段を用いて撮像した、検査パターンを表示させたディスプレイ画面の画像を用いて、前記計測した各セルの位置にそれぞれ輝度計測領域を設け、それぞれの輝度計測領域内で輝度計測を行ない、得られた輝度計測結果の平均値または中央値を計算し、しきい値と比較して、各セルの検査を行なう方法であって、各セルの輝度平均値または中央値としきい値を比較する際に、検査対象となるセルの近傍に高い輝度のセルが存在した場合、その近傍のセルの輝度値に応じて、しきい値を高くしている。
請求項（抜粋）：
ディスプレイ画面の所定の表示領域に関して、撮像手段を用いて撮像した、位置計測パターンを表示させたディスプレイ画面の画像を用いて、個々の画素を構成する各セルの位置を計測し、前記撮像手段を用いて撮像した、検査パターンを表示させたディスプレイ画面の画像を用いて、前記計測した各セルの位置にそれぞれ輝度計測領域を設け、それぞれの輝度計測領域内で輝度計測を行ない、得られた輝度計測結果の平均値または中央値を計算し、しきい値と比較して、各セルの検査を行なう方法であって、各セルの輝度平均値または中央値としきい値を比較する際に、検査対象となるセルの近傍に高い輝度のセルが存在した場合、その近傍のセルの輝度値に応じて、しきい値を高くするディスプレイ画面検査方法。
IPC (3件)：
G09F 9/00 352 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101
FI (3件)：
G09F 9/00 352 ,  G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101
Fターム (11件)：
2G086EE10 ,  2H088FA12 ,  2H088FA13 ,  2H088FA14 ,  2H088FA16 ,  2H088FA30 ,  5G435AA17 ,  5G435CC09 ,  5G435CC12 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10
引用特許：
出願人引用 (4件)
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