特許

J-GLOBAL ID：200903062918864289

X線回折装置及び該装置を用いた試料の測定方法

発明者： 和田 充弘 ,  久慈 俊郎 ,  井上 眞一 ,  友成 健二
出願人/特許権者： 三井金属鉱業株式会社
代理人 (1件)： 羽鳥 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-095362
公開番号（公開出願番号）：特開2000-292375
出願日： 1999年04月01日
公開日（公表日）： 2000年10月20日
要約：

【要約】【課題】 試料のガスとの反応量に対する試料の結晶構造等の回折結果を同時に測定可能なX線回折装置及び該装置を用いた試料の測定方法を提供する。【解決手段】 X線発生手段とチャンバー部とゴニオメーターとX線検出器とを備え、該チャンバー部内に固定された試料にX線を照射し、該試料からの回折線を測定するX線回折装置において、上記チャンバー部に、該チャンバー部を真空とする真空排気手段と該チャンバー部に各種ガスを導入するガス導入手段と該チャンバーのガス変化量を測定するガス量測定手段とを接続することを特徴とするX線回折装置。

請求項（抜粋）：

X線発生手段とチャンバー部とゴニオメーターとX線検出器とを備え、該チャンバー部内に固定された試料にX線を照射し、該試料からの回折線を測定するX線回折装置において、上記チャンバー部に、該チャンバー部を真空とする真空排気手段と該チャンバー部に各種ガスを導入するガス導入手段と該チャンバーのガス変化量を測定するガス量測定手段とを接続することを特徴とするX線回折装置。

Fターム (16件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001GA16 ,  2G001GA17 ,  2G001JA14 ,  2G001KA08 ,  2G001KA20 ,  2G001LA02 ,  2G001MA04 ,  2G001MA05 ,  2G001NA11 ,  2G001NA17 ,  2G001PA07 ,  2G001QA01 ,  2G001QA10

引用特許：

審査官引用 (3件)

• X線回折装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-267954   出願人：理学電機株式会社
• 特開平2-216748
  
• 水素吸蔵合金及び二次電池
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-259544   出願人：株式会社東芝

引用文献：

審査官引用 (2件)

• “Hydrogen concentration and its relation to interplanar spacing and layer thickness of 1000-Å Nb(1
• “水素吸蔵合金の圧力-組成等温線(PCT線)の測定方法”