特許
J-GLOBAL ID：200903063028028749

物品の側面検査装置

発明者：
南 充弘

南 充弘 について

, 
種田 規男

種田 規男 について


出願人/特許権者：
鐘紡株式会社

鐘紡株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-125624
公開番号（公開出願番号）：特開2000-314705
出願日： 1999年05月06日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
要約：
【要約】【課題】主として円筒形からなる複雑な形状の被検査物品の外周の側面を、搬送コンベア上で高速に検査する安価な装置を提供する。【解決手段】被検査物品の側面を検査する装置であって、被検査物品の側面からの反射光を反射させる反射機構と、前記被検査物品の側面を照射する照明機構と、前記反射機構からの光を撮像する撮像機構と、前記撮像機構からの映像信号を処理する処理機構とから構成され、前記反射機構が被検査物品をその内側に取り囲むように設けられた中空円錐形の反射体を含んで構成された検査装置。
請求項（抜粋）：
被検査物品の側面を検査する装置であって、被検査物品の側面からの反射光を被検査物品の上方または下方へ反射させる反射機構と、前記被検査物品の側面を照射する照明機構と、前記反射機構からの光を撮像する撮像機構と、前記撮像機構からの映像信号を処理する処理機構とから構成され、前記反射機構は被検査物品の搬送方向と直角方向であって被検査物品の上方または下方に接触することなく配置され、前記反射機構は被検査物品をその内側に取り囲むように設けられた中空円錐形の反射体を含んで構成され、前記反射体は被検査物品の側面からの反射光を入射させる第1面と、第1面を透過した光を第1面の裏面に反射する第2面と、第1面の裏面からの反射光を上方または下方へ透過させる第3面を有する検査装置。
IPC (2件)：
G01N 21/84 ,  G01N 21/85
FI (2件)：
G01N 21/84 E ,  G01N 21/85 A
Fターム (13件)：
2G051AA18 ,  2G051AB08 ,  2G051AB15 ,  2G051BA20 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CC11 ,  2G051CD07 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051ED11
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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