特許
J-GLOBAL ID：200903063034704144

自動分析装置

発明者：
粟田 泰直

粟田 泰直 について

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嶋田 和広

嶋田 和広 について

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高木 由充

高木 由充 について

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折橋 敏秀

折橋 敏秀 について

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松原 茂樹

松原 茂樹 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-234836
公開番号（公開出願番号）：特開2008-058125
出願日： 2006年08月31日
公開日（公表日）： 2008年03月13日
要約：
【課題】自動分析装置を操作する上で、問題のある試薬を特定する場合、複数の画面を表示させなければならず、経験の浅いオペレータにとっては問題箇所の特定が困難である。【解決手段】自動分析装置を用いて分析する際に重要となる試薬・キャリブレータ・コントロールの情報を同時表示することにより、1画面で必要な情報を参照可能とする。【効果】一装置上に搭載されている全ての試薬情報を一括表示するより、経験の浅いオペレータにも、問題のある試薬を容易に特定することが可能となる。また従来方式のような画面の切換えがなくなり、操作性が向上し視認性が向上する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
複数の試薬を載置する試薬載置手段を備えた自動分析装置において、 該試薬載置手段に搭載された試薬について、 試薬の搭載位置の情報とともに、 少なくとも試薬の残量の情報,試薬の有効期限の情報,校正の有効時間の情報,精度管理の有効時間の情報のうちから選ばれた1つ以上の情報を同一画面上で表示する表示手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (1件)：
G01N 35/00
FI (1件)：
G01N35/00 C
Fターム (3件)：
2G058BB07 ,  2G058CE00 ,  2G058GD01
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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