特許
J-GLOBAL ID:200903063302669950
半導体作製方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-294633
公開番号(公開出願番号):特開平7-130652
出願日: 1993年10月29日
公開日(公表日): 1995年05月19日
要約:
【要約】【目的】 結晶化を助長する触媒元素を用いて、550°C程度、4時間程度の加熱処理で結晶性珪素を得る方法において、触媒元素の導入量を精密に制御する。【構成】 ガラス基板11上に形成された非晶質珪素膜12上に極薄の酸化膜13を形成し、ニッケル等の触媒元素を10〜200ppm(要調整)添加した酢酸塩溶液等の水溶液14を滴下する。この状態で所定の時間保持し、スピナー15を用いてスピンドライを行なう。そして、550°C、4時間の加熱処理を行なうことにより、結晶性珪素膜を得る。上記構成において、溶液中の触媒元素の濃度を調整することで、完成した結晶性珪素膜中における触媒元素の濃度を精密に制御することができる。
請求項(抜粋):
非晶質珪素膜上に該珪素膜の結晶化を助長する触媒元素を含有させた溶液を塗布する工程と、前記非晶質珪素膜を加熱処理することによる結晶化させる工程と、を有する半導体作製方法。
IPC (5件):
H01L 21/20
, C01B 33/02
, H01L 27/12
, H01L 29/786
, H01L 21/336
引用特許:
審査官引用 (7件)
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特開平3-280420
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特開昭64-074754
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特開平2-140915
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-229120
出願人:沖電気工業株式会社
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特開平2-020059
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特開昭63-142807
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特許第5147826号
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