特許
J-GLOBAL ID：200903063310507870
コロイド濾過における膜の濃度分極汚染を予測する方法及びこれを行うプログラムを記録した媒体
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
角田 嘉宏
, 古川 安航
, 西谷 俊男
, 幅 慶司
, 内山 泉
, 是枝 洋介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-100676
公開番号（公開出願番号）：特開2005-125303
出願日： 2004年03月30日
公開日（公表日）： 2005年05月19日
要約：
【課題】本発明は多孔性膜を用いた粒子分散液の限外濾過遂行の時、濃度分極層においての粒子の濃度分布を算出して粒子らの積りによる濃度分極汚染を予測する方法及びこれを行うプログラムを貯蔵した記録媒体を提供すること。【解決手段】本発明によると、濾過フラックスの実験データと、ここに数値解法を適用して計算した濃度勾配拡散係数から濃度分極層において、粒子の濃度分布を算出することが出来る。本発明を用いることにより、粒子分散液の膜濾過プロセスにおいての必然的である濃度分極汚染に対する定量的予測が可能であり、汚染特性制御及び設計の基本資料を確保することが出来る。【選択図】 なし
請求項（抜粋）：
多孔性膜を用いた限外濾過遂行の時、濾過時間が経過しながら、前記膜表面上に粒子が積もる際、濃度分極層で粒子の濃度分布を算出する方法であって、 濾過フラックス、濾過体積及び濾過フラックスの微分値から浸透圧及び熱力学係数を求めるステップ(d)と、 流体力学係数及び前記熱力学係数から濃度勾配拡散係数を求めるステップ(e)と、 前記濃度勾配拡散係数と、ケーキ層及びバルクでの粒子濃度及び前記濾過フラックスから濃度分極層での粒子濃度分布を求めるステツプ(f)と、 を含むことを特徴とする濃度分極層で粒子の濃度分布を算出する方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
4D006GA06
, 4D006LA10
, 4D006MB05
, 4D006MC27
, 4D006MC39
, 4D006PA01
, 4D006PB15
, 4D006PB70
