特許
J-GLOBAL ID：200903063353449890
被検体の超音波検査方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
武 顕次郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-229871
公開番号（公開出願番号）：特開平8-094596
出願日： 1994年09月26日
公開日（公表日）： 1996年04月12日
要約：
【要約】【目的】 アレイ探触子、パルサ、増幅器等を変更することなく、広い範囲の検査を行なうことができる被検体の超音波検査方法を提供すること。【構成】 アレイ探触子5にはX軸方向に一列に圧電素子が配列され、それらにより発生する超音波ビームでX軸方向の走査(電子走査)を行なう。位置Aにあるアレイ探触子5(A)をY軸方向に機械的に連続移動させ、その移動の中途の所定のピッチp毎に電子走査を行ない、位置Bに至ってアレイ探触子5をX軸方向に、その走査範囲Lとピッチpの和だけずらし、かつ、Y軸方向にΔYだけずらし、位置Cから位置Dに向かって同様の走査を行なう。X軸方向の走査範囲を拡大でき、電子走査の端部の対応するサンプリング点(P10とP20)を一致させてサンプリングできる。
請求項（抜粋）：
多数の圧電素子を一列に配列して構成されたアレイ探触子を用い、このアレイ探触子を被検体に対して前記圧電素子の配列方向とは異なる他の方向に連続的に相対移動させる第1の走査中に、その相対移動における所定ピッチ毎に前記被検体の表面を前記圧電素子の配列方向に所定のピッチで超音波走査する第2の走査を行なう被検体の超音波検査方法において、前記アレイ探触子により、前記第1の走査と前記第2の走査により得られた第1の走査領域に隣接する第2の走査領域を、前記第1の走査領域の前記第2の走査の最終走査における前記第2の走査領域に隣接するサンプリング点に対して、当該第2の走査領域の前記第2の走査の最初の走査における前記第1の走査領域に隣接するサンプリング点が、前記第1の走査の走査方向においてほぼ等しい位置関係になるように走査することを特徴とする被検体の超音波検査方法。
引用特許：
前のページに戻る
