特許
J-GLOBAL ID:200903063427650410

プラント設備点検装置およびプラント設備点検システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 田澤 博昭 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-075021
公開番号(公開出願番号):特開平9-265316
出願日: 1996年03月28日
公開日(公表日): 1997年10月07日
要約:
【要約】【課題】 各センサから個別に得られた測定データのみで点検箇所の状態を判定するのみで、複数のセンサを相互に補償させ総合的で高確信度な状態判定ができなかった。【解決手段】 プラントの点検箇所の状態を検知する複数のセンサと、センサからの信号を処理し、必要ならば複数のセンサのいずれかを選択して再度詳細に点検箇所の状態を独自に判断して検知させる信号処理装置を備えた。
請求項(抜粋):
プラント内の複数の設備機器を含む点検箇所の状態をセンシングする複数のセンサ手段と、前記センサ手段からの信号を処理し、前記信号の状態に基づいて複数のセンサ手段のいずれかを選択して前記点検箇所の状態を再度センシングさせる信号処理手段とを備えたプラント設備点検装置。
IPC (5件):
G05B 23/02 ,  G05B 23/02 302 ,  G01D 21/00 ,  G06F 3/14 320 ,  G08C 25/00
FI (5件):
G05B 23/02 V ,  G05B 23/02 302 Z ,  G01D 21/00 Q ,  G06F 3/14 320 C ,  G08C 25/00 A
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • プラント異常点検装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-102495   出願人:三菱電機株式会社
  • 特開平4-324787
  • 移動測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-266141   出願人:株式会社東芝
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