特許
J-GLOBAL ID:200903063436141650

送受信システムおよび通信用半導体集積回路並びにテスト方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大日方 富雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-203096
公開番号(公開出願番号):特開2004-048383
出願日: 2002年07月11日
公開日(公表日): 2004年02月12日
要約:
【課題】DA変換回路やAD変換回路のようなアナログ回路およびFFT回路を内蔵した通信用半導体集積回路において、内蔵アナログ回路の通常動作に悪影響を与える付加回路を設けることなく、内蔵アナログ回路の特性を評価することができるテスト技術を提供する。【解決手段】DA変換回路(105)の出力をAD変換回路(108)に入力させる信号パス(PS1)とスイッチ(SW1)を設け、DA変換回路に単一周波数の正弦波のようなテスト信号を入力してDA変換させてその出力をAD変換回路へ入力してAD変換させ、その結果を内蔵のFFT回路(110)で解析してその解析結果に基づいてDA変換回路とAD変換回路の特性誤差を校正するようにした。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
逆フーリエ変換回路と、DA変換回路と、AD変換回路と、フーリエ変換回路とを備え、直交周波数分割多重方式で送受信データを変復調する送受信システムであって、 上記DA変換回路と上記AD変換回路には各々特性を調整可能な校正手段が設けられ、 上記DA変換回路の出力端子と上記AD変換回路の入力端子との間には上記DA変換回路の出力を上記AD変換回路へ入力可能にする接続手段と、 該接続手段が導通状態にされた状態で上記DA変換回路から所定のアナログテスト信号を出力させ、上記AD変換回路から出力される信号を上記フーリエ変換回路で周波数解析した結果に基づいて上記DA変換回路と上記AD変換回路の各校正手段へ上記DA変換回路と上記AD変換回路の特性の誤差を補正する調整制御信号を出力する調整制御回路と、 を備えることを特徴とする送受信システム。
IPC (3件):
H03M1/10 ,  G01R31/316 ,  H04J11/00
FI (4件):
H03M1/10 A ,  H03M1/10 B ,  H04J11/00 Z ,  G01R31/28 C
Fターム (23件):
2G132AA11 ,  2G132AB01 ,  2G132AC00 ,  2G132AG03 ,  2G132AK15 ,  2G132AK19 ,  2G132AK29 ,  2G132AL09 ,  2G132AL11 ,  2G132AL15 ,  5J022AA05 ,  5J022AB06 ,  5J022AC01 ,  5J022AC02 ,  5J022BA05 ,  5J022BA10 ,  5J022CD03 ,  5K022DD01 ,  5K022DD13 ,  5K022DD19 ,  5K022DD23 ,  5K022DD33 ,  5K022DD34
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • OFDM送信装置及びOFDM受信装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-287057   出願人:株式会社東芝
  • 半導体集積回路
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-037054   出願人:三菱電機株式会社
  • 特開平2-008760
全件表示

前のページに戻る