特許

J-GLOBAL ID：200903063471249219

コンタクト装置

発明者： 渋井 志守
出願人/特許権者： 東洋電子技研株式会社
代理人 (1件)： 尾川 秀昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-183449
公開番号（公開出願番号）：特開平10-026646
出願日： 1996年07月12日
公開日（公表日）： 1998年01月27日
要約：

【要約】【課題】 電極等の位置関係の相違する被コンタクト物に、部材の一部の交換で対応することができるようにし、以て検査用の設備の増大を防止し、検査コストの低減を図る。【解決手段】 ベース1にコネクタと電気的に接続された中継ピン8が配設された第1のピンボード3と第1のメインボードを取り付けてなる基本ユニットと、上記中継ピン8と接触するピン24が配設された第2のピンボード21及び該ピンボードの各ピン24に電気的に接続され被測定体の例えば電極に対応した位置にて貫通状に測定用ピン18が設けられた第2のメインボード14、15、16、17を少なくとも有し、該メインボードにて上記第1のメインボードに着脱自在に取り付けられてなる対応ユニット13とからなる。

請求項（抜粋）：

ベースに、コネクタと電気的に接続された中継ピンが多数配設された第1のピンボードと、それより高いところに位置し該ピンボードと略対応するところに対応ユニット挿通窓を有する第1のメインボードを取り付けてなる基本ユニットと、上記対応ユニット挿通窓の内側に納まり上記中継ピンと接触する接触ピンが配設された第2のピンボードと、該ピンボードの各接触ピンに電気的に接続され被測定体の配線、端子及び/又は電極に対応した位置にて貫通状に測定用ピンが設けられた第2のメインボードとを少なくとも有し、該第2のメインボードが上記第1のメインボードに着脱自在に取り付けられてなる対応ユニットと、からなることを特徴とするコンタクト装置

IPC (3件)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/06 A ,  G01R 31/28 K

引用特許：

審査官引用 (3件)

• テスト治具
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-062771   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平3-028770
  
• プリント配線板の検査治具
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-196029   出願人：イビデン株式会社