特許
J-GLOBAL ID：200903063584443321
電子装置の診断システム及び診断方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
村上 博 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-241287
公開番号（公開出願番号）：特開2000-074998
出願日： 1998年08月27日
公開日（公表日）： 2000年03月14日
要約：
【要約】【課題】 電子装置の故障箇所の特定及び早期発見を可能にする。【解決手段】 CPU6からの制御により、正常な電子基板1に基準動作をさせたときの電流値をメモリ9に記憶させ、他の電子基板1に同じ基準動作をさせたときの電流値とメモリ9に記憶された電流値とを比較することによって、電子基板1の故障の有無を判断する。
請求項（抜粋）：
電子基板に電流を供給する手段と、正常な電子基板に基準動作をさせた時の電流値を記憶させる記憶手段と、他の電子基板に上記基準動作をさせたときの電流値と上記記憶手段に記憶された電流値とを比較することによって上記電子基板の故障の有無を判断する手段とを設けたことを特徴とする電子装置の診断システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 D
, G01R 31/00
2G032AB01
, 2G032AB20
, 2G032AC01
, 2G032AD01
, 2G032AE08
, 2G032AE12
, 2G032AG01
, 2G032AG02
, 2G032AH01
, 2G032AK03
, 2G032AK11
, 2G032AK12
, 2G032AK15
, 2G032AL11
, 2G032AL14
, 2G036AA19
, 2G036AA27
, 2G036BA46
, 2G036BB12
, 2G036CA05
