特許

J-GLOBAL ID：200903063723594836

半田組成判定装置及びその判定方法

発明者： 内山 憲治
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-084640
公開番号（公開出願番号）：特開2005-274206
出願日： 2004年03月23日
公開日（公表日）： 2005年10月06日
要約：

【課題】電子回路部品に付着した半田の種類を簡単に判定する。【解決手段】検査対象部品に付着している半田を加熱する加熱手段4,12と、前記半田の温度を計測する温度計測手段6,7と、前記半田の溶融を判断する溶融判断手段5,10,11と、前記温度計測手段の測温結果及び前記溶融判断手段の判断結果が与えられ、前記溶融判断手段によって前記半田が溶融したことが示された場合の半田の溶融温度から、前記半田の組成を判定する判定手段8とを具備したことを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

検査対象部品に付着している半田を加熱する加熱手段と、 前記半田の温度を計測する温度計測手段と、 前記半田の溶融を判断する溶融判断手段と、 前記温度計測手段の測温結果及び前記溶融判断手段の判断結果が与えられ、前記溶融判断手段によって前記半田が溶融したことが示された場合の半田の溶融温度から、前記半田の組成を判定する判定手段とを具備したことを特徴とする半田組成判定装置。

IPC (3件)：

G01N25/04 ,  G01N33/20 ,  H05K3/34

FI (4件)：

G01N25/04 A ,  G01N33/20 K ,  H05K3/34 512B ,  H05K3/34 512C

Fターム (23件)：

2G040AA02 ,  2G040AB01 ,  2G040BA08 ,  2G040BA25 ,  2G040CA03 ,  2G040CA11 ,  2G040CA23 ,  2G040EB03 ,  2G040HA02 ,  2G055AA05 ,  2G055AA08 ,  2G055BA01 ,  2G055CA12 ,  2G055EA05 ,  2G055FA02 ,  2G055FA05 ,  5E319AC01 ,  5E319BB01 ,  5E319CC22 ,  5E319CD06 ,  5E319CD53 ,  5E319CD57 ,  5E319GG15

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 半田組成分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-082408   出願人：株式会社リサーチ