特許
J-GLOBAL ID:200903063823911871
走査型プローブ顕微鏡検査法用の力感知プローブ
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
社本 一夫 (外5名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-549903
公開番号(公開出願番号):特表2002-515592
出願日: 1999年05月17日
公開日(公表日): 2002年05月28日
要約:
【要約】走査型プローブ顕微鏡にて使用される力感知プローブが提供され且つかかるプローブ11を磁気歪み性材料10から成る膜にて被覆する方法が提供される。該プローブ11は、プローブに対し任意の方向に方向決めすることのできる磁界内に該プローブを配置することにより磁化可能である。磁気歪み効果は、磁気膜を圧縮し又は拡張し、印加された磁界の強度によりその長さを変化させる。このことは、一方、好ましい実施の形態において、カンチレバー11の形態であるプローブ及び付与された磁気膜を撓み又は曲げる。その後のプローブの動きは、磁力を直接付与する場合の動作よりも遥かに大きく、また、その効果は印加された磁界の方向に対し敏感ではない。
請求項(抜粋):
表面又は表面間の性質を感知する力感知プローブにおいて、プローブと、該プローブ上に設けられた磁気歪み性材料を含む膜とを備える、力感知プローブ。
IPC (3件):
G01N 13/16
, G01B 7/34
, G12B 21/08
FI (3件):
G01N 13/16 C
, G01B 7/34
, G12B 1/00 601 D
Fターム (7件):
2F063AA43
, 2F063CA29
, 2F063EA16
, 2F063EB15
, 2F063EB23
, 2F063GA56
, 2F063GA79
引用特許:
前のページに戻る