特許
J-GLOBAL ID：200903063941621969

モノクロメータ装置及びX線装置

発明者：
清水 勝彦

清水 勝彦 について


出願人/特許権者：
理学電機株式会社

理学電機株式会社 について


代理人 (1件)： 横川 邦明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-315915
公開番号（公開出願番号）：特開2000-147200
出願日： 1998年11月06日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：
【要約】【課題】 X線装置に関する光軸調整時の安全性を確保すると共にその作業性を向上する。【解決手段】 X線光路上に配置されX線を単色化するモノクロメータ22を有するモノクロメータ装置2である。モノクロメータ22の外側には、X線光路を横切るように回転移動できる円筒状のカバー34が配設される。このカバー34は、X線測定のために十分な量のX線を通過させる縦長の測定用スリット38及び通過するX線の量を低減する横長のX線強度低減スリット39を有する。カバー34を中心軸線Xm を中心として回転移動させることにより、測定用スリット38及びX線強度低減スリット39のいずれか一方を選択してX線光路へ持ち運ぶことができる。
請求項（抜粋）：
X線光路上に配置されX線を単色化するモノクロメータを有するモノクロメータ装置において、前記モノクロメータの外側に配設されると共に前記X線光路を横切って移動できるスリット切替え用可動部材を有し、そのスリット切替え用可動部材は、測定のために十分な量のX線を通過させる測定用スリット及び通過するX線の量を低減するX線強度低減スリットを有することを特徴とするモノクロメータ装置。
IPC (2件)：
G21K 1/06 ,  G01N 23/20
FI (2件)：
G21K 1/06 S ,  G01N 23/20
Fターム (5件)：
2G001DA03 ,  2G001EA02 ,  2G001EA09 ,  2G001GA13 ,  2G001SA01
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • X線分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-312673   出願人：理学電機工業株式会社
  • 特開昭52-027695
  • 特開昭62-038350

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