特許
J-GLOBAL ID：200903064178086492
検査装置用の判定モデル作成支援装置および検査装置ならびに耐久試験装置および耐久試験方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松井 伸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-069228
公開番号（公開出願番号）：特開2006-292734
出願日： 2006年03月14日
公開日（公表日）： 2006年10月26日
要約：
【課題】耐久試験を自動的に行なうことに適した検査装置を提供すること。【解決手段】ワーク(エンジン)にセンサを付け(S1)、耐久試験を開始(S2)。一定時間経過後、耐久試験を一旦停止(S3)。そして、取得したセンシングデータを、検査装置10内の判定アルゴリズム作成手段へ渡す(S4)。初期状態であれば、正常状態と推定し、判定アルゴリズム作成手段は、正常の波形データとして数値化し正常領域を規定する基準空間,判定モデルを作成し、判定アルゴリズムに登録し(S5)、判定モデルから異常と判定する閾値をセットする(S6)。ついで、耐久試験を再開し(S7)、長時間にわたってエンジンを回転させ続ける。耐久試験実行中に各センサから得られるセンシングデータを検査装置内の判定アルゴリズムに与え、リアルタイムに状態判定を行ない(S8)、閾値を超えることがあれば瞬間停止命令を耐久試験機に出力する(S9)。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
検査対象品から取得した波形データから特徴量を抽出し、抽出した特徴量に基づいて検査対象品の状態を判定する検査装置用の判定モデル作成支援装置であって、
取得した波形データを設定された単位時間分のデータに分割する分割波形データ作成手段と、
その分割波形データ作成手段で作成された単位時間分の複数個の分割波形データに基づいて、各分割波形データ単位で特徴量を演算する手段と、
その分割波形データ単位で演算された特徴量に基づいて、単位時間毎に検査対象品の状態を判定するための判定モデルを作成するモデル作成手段と、
を備えたことを特徴とする検査装置用の判定モデル作成支援装置。
IPC (3件)：
G01H 17/00
, G01M 19/00
, G01M 15/12
G01H17/00 A
, G01M19/00 Z
, G01M15/12
2G024AD01
, 2G024AD21
, 2G024BA12
, 2G024BA15
, 2G024BA27
, 2G024CA13
, 2G024DA09
, 2G024DA25
, 2G024FA01
, 2G024FA06
, 2G064AA15
, 2G064AB13
, 2G064AB22
, 2G064CC54
, 2G087EE22
, 2G087FF01
, 2G087FF24
