特許

J-GLOBAL ID：200903064189548838

光ファイバ歪み測定装置及び光ファイバ歪み測定方法

発明者： 李 哲賢 ,  内山 晴義
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-172504
公開番号（公開出願番号）：特開平11-023415
出願日： 1997年06月27日
公開日（公表日）： 1999年01月29日
要約：

【要約】【課題】 短期間で効率よく光ファイバの歪み及び歪み量を検出することができる光ファイバ歪み測定装置及び光ファイバ歪み測定方法を提供すること。【解決手段】 異なるブリルアン周波数シフトを有する2種類の光ファイバをある距離に交互配置した被測定光ファイバ50と、被測定光ファイバ50の歪みがない状態の特性を初期データとして記憶する初期データ記憶部50と、光周波数変換回路14から出射される光パルスのうち、特定の光周波数の光パルスを被測定光ファイバ50へ入射する光パルス取出回路16と、被測定光ファイバ50から出射されるブリルアン散乱光を受光する受光回路24と、受光回路24から出力される信号を演算処理し、被測定光ファイバ50の特性データを得る信号処理部30と、信号処理部36が求めた特性データと初期データとを比較して、歪みが生じているか否かを判断する伸縮判断部58とを備える。

請求項（抜粋）：

異なるブリルアン周波数シフトを有する2種類の光ファイバをある距離に交互配置した被測定光ファイバと、前記被測定光ファイバの歪みがない状態の特性を初期データとして記憶する初期データ記憶手段と、前記被測定光ファイバに、所定光周波数の光パルスを入射させる入射手段と、前記光パルスを入射した場合に前記被測定光ファイバから出射されるブリルアン散乱光を受光する受光手段と、前記受光手段から出力される信号を演算処理し、前記被測定光ファイバの特性データを得る信号処理手段と、前記信号処理手段が求めた特性データと前記初期データとを比較して、歪みが生じているか否かを判断する判断手段とを具備することを特徴とする光ファイバ歪み測定装置。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G01M 11/02

FI (2件)：

G01M 11/00 R ,  G01M 11/02 J

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平3-120437
  
• 光ファイバ特性測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-248169   出願人：安藤電気株式会社, 日本電信電話株式会社