特許
J-GLOBAL ID：200903064275204998
電子部品の実装装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
宮田 金雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-337504
公開番号（公開出願番号）：特開2002-141362
出願日： 2000年11月06日
公開日（公表日）： 2002年05月17日
要約：
【要約】【課題】 校正が簡易な電子部品の実装装置を得ること。【解決手段】 チップ10を基板2の方向に移動させるヘッド12に取り付けられると共に、チップカメラ32、基板カメラ34で撮像可能な校正基準マーク72aと、チップカメラ32により撮像された情報に基づいてチップカメラ32の第1の座標系における、第1の基準マークの位置、校正基準マーク72aの第1の位置を求めると共に、基板カメラ34により撮像された情報に基づいて、基板カメラ34の第2の座標系における、第2の基準マークの位置、十字マーク72aの第2の位置を求める画像処理部52と、第1及び第2の基準マークの位置、十字マーク72aの第1及び第2の位置に基づいて、第1の基準マークと2の基準マークとを一致させる校正量を求める演算部56とを備えたものである。
請求項（抜粋）：
第1の対象物に標された第1の基準マークを撮像する第1の撮像手段と、上記第1の対象物と第2の対象物とが対向する位置関係で、上記第2の対象物に標された第2の基準マークを撮像する第2の撮像手段と、上記第1の対象物を上記第2の対象物の方向に移動させる駆動部に取り付けられると共に、上記第1及び第2の撮像手段で撮像可能な校正基準マークと、上記第1の撮像手段により撮像された情報に基づいて上記第1の撮像手段の第1の座標系における、上記第1の基準マークの位置、上記校正基準マークの第1の位置を求めると共に、上記第2の撮像手段により撮像された情報に基づいて、上記第2の撮像手段の第2の座標系における、上記第2の基準マークの位置、上記校正基準マークの第2の位置を求める画像処理手段と、上記第1及び第2の基準マークの位置、上記校正基準マークの上記第1及び第2の位置に基づいて、上記第1の対象物に標された上記第1の基準マークと上記第2の対象物に標された上記第2の基準マークとを一致させる校正量を求める算出手段と、を備えたことを特徴とする電子部品の実装装置。
IPC (3件)：
H01L 21/52
, H05K 13/04
, H05K 13/08
H01L 21/52 F
, H05K 13/04 Z
, H05K 13/08 Q
5E313AA01
, 5E313AA11
, 5E313CC04
, 5E313EE02
, 5E313EE03
, 5E313FF32
, 5E313FF40
, 5F047FA14
, 5F047FA15
