半導体集積回路

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西教圭一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-253132
公開番号（公開出願番号）：特開平6-102326
出願日： 1992年09月22日
公開日（公表日）： 1994年04月15日
要約：

【要約】【目的】機能の論理的確認に加えて、ACタイミングを任意にテストすることを可能とする。【構成】比較判断回路14には、判断時点設定回路16からの判断時点に発生されるタイミング信号が与えられる。このタイミング信号は、AND回路33に与えられるクロック信号CLK-iと、テスト・モード切換え信号MDiとによって設定される。データラッチ回路31は、ライン23を介して与えられる診断対象回路からの出力信号を、設定された判断時点にラッチする。AND回路32は、比較用期待値とラッチされたデータとを比較し、ともにハイレベルであるときにハイレベルの判断結果をライン27を介して導出する。

請求項（抜粋）：

予め試験用信号に対応する出力によって、動作が正常であるか否かを判断する自己診断機能を備える半導体集積回路において、自己診断機能の判断時点が設定され、設定された判断時点でタイミング信号を発生する判断時点設定手段と、判断時点設定手段からのタイミング信号に応答して、設定された判断時点で、試験用信号に対応する出力を検出して自己診断するための判断を行う判断手段とを含むことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , H01L 21/66

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平4-082100
特開昭59-124100
特開昭53-108243

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