特許
J-GLOBAL ID：200903064323840524

非接触2次元形状計測方法およびウェブ皺形状計測装置

発明者：
吉田 世顕

吉田 世顕 について


出願人/特許権者：
大日本印刷株式会社

大日本印刷株式会社 について


代理人 (1件)： 金山 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-352653
公開番号（公開出願番号）：特開2003-148932
出願日： 2001年11月19日
公開日（公表日）： 2003年05月21日
要約：
【要約】【課題】巻解かれて高速で移送されるウェブにも適用することができる非接触2次元形状計測方法およびウェブ皺形状計測装置を提供する。【解決手段】長距離焦点型レーザセンサが出力するレーザ光線をスキャニングミラによって反射することで計測部位においてレーザスポットを走査するレーザ光線走査過程と、前記計測部位において反射する前記レーザ光線を前記スキャニングミラーによって反射して前記長距離焦点型レーザセンサに戻すレーザ光線回帰過程と、前記スキャニングミラーによる前記レーザスポットの走査に同期して前記長距離焦点型レーザセンサが出力する変位データをデータ処理手段に入力する変位データ入力過程とを有するようにした非接触2次元形状計測方法。およびその方法を適用したウェブ皺形状計測装置。
請求項（抜粋）：
長距離焦点型レーザセンサが出力するレーザ光線をスキャニングミラによって反射することで計測部位においてレーザスポットを走査するレーザ光線走査過程と、前記計測部位において反射する前記レーザ光線を前記スキャニングミラーによって再び反射して前記長距離焦点型レーザセンサに戻すレーザ光線回帰過程と、前記スキャニングミラーによる前記レーザスポットの走査に同期して前記長距離焦点型レーザセンサが出力する変位データをデータ処理手段に入力する変位データ入力過程と、を有することを特徴とする非接触2次元形状計測方法。
IPC (2件)：
G01B 11/24 ,  G01B 11/245
FI (2件)：
G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 N
Fターム (24件)：
2F065AA03 ,  2F065AA04 ,  2F065AA52 ,  2F065AA53 ,  2F065BB13 ,  2F065BB15 ,  2F065CC02 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065FF66 ,  2F065GG04 ,  2F065GG12 ,  2F065GG13 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ16 ,  2F065LL13 ,  2F065LL15 ,  2F065LL62 ,  2F065MM26 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ23
引用特許：
審査官引用 (3件)

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