特許

J-GLOBAL ID：200903064433554691

ループ状インターフェースの障害解析方法及び障害解析機能を有するシステム

発明者： 森 善昭
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 後藤 洋介 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-023604
公開番号（公開出願番号）：特開2001-216206
出願日： 2000年02月01日
公開日（公表日）： 2001年08月10日
要約：

【要約】【課題】 ループ状インターフェースを用いたシステムにおいて、リンク障害の原因となっている故障デバイスや切断箇所を特定する。【解決手段】 ループ状インターフェース120に複数のデバイス200が接続されており、ポートバイパス回路210がループ状インターフェースからデバイスを切り離す。ポートバイパス制御手段100は、ループ状インターフェースがリンクダウンとなると、ポートバイパス回路を制御してデバイスを順次ループ状インターフェースから切り離す。そして、デバイスを切り離した後ループ障害があるか否かを調査する。この動作をデバイスの数回繰り返して調査結果を得て、調査結果に基づいてループ障害の要因となっているデバイスを特定する。

請求項（抜粋）：

ループ状インターフェースに複数のデバイスが接続され、前記ループ状インターフェースから前記デバイスを切り離すためのポートバイパス回路と、前記ポートバイパス回路を制御する制御手段とを有するシステムに用いられ、前記ループ状インターフェースがリンクダウンとなると、前記制御手段は、前記ポートバイパス回路を制御して前記デバイスを順次前記ループ状インターフェースから切り離す第1のステップと、前記デバイスを切り離した後ループ障害があるか否かを調査する第2のステップと、前記第1及び前記第2のステップを前記デバイスの数回繰り返して調査結果を得る第3のステップと、前記調査結果に基づいて前記ループ障害の要因となっているデバイスを特定する第4のステップとを行うことを特徴とするループ状インターフェースの障害解析方法。

IPC (5件)：

G06F 13/00 301 ,  G06F 3/06 305 ,  G06F 13/10 340 ,  H04L 12/42 ,  H04L 12/437

FI (5件)：

G06F 13/00 301 W ,  G06F 3/06 305 A ,  G06F 13/10 340 A ,  H04L 11/00 330 ,  H04L 11/00 331

Fターム (32件)：

5B014EA05 ,  5B014EA06 ,  5B014HA09 ,  5B014HA11 ,  5B014HB02 ,  5B014HC13 ,  5B014HC14 ,  5B065EC01 ,  5B065ZA13 ,  5B083AA05 ,  5B083BB03 ,  5B083BB08 ,  5B083CD09 ,  5B083CD11 ,  5B083CE03 ,  5B083DD01 ,  5B083DD09 ,  5B083DD13 ,  5B083EE07 ,  5B083GG04 ,  5K031AA08 ,  5K031AA14 ,  5K031DA13 ,  5K031DA19 ,  5K031DB14 ,  5K031EA01 ,  5K031EA10 ,  5K031EA12 ,  5K031EB03 ,  5K031EB09 ,  5K031EC01 ,  5K031EC05

引用特許：

審査官引用 (1件)

• プロセス制御用データ伝送装置及びI/Oバス伝送障害の除去方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-220647   出願人：株式会社東芝