特許
J-GLOBAL ID:200903064477667957
基板洗浄用2流体ノズル及び基板洗浄装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (3件):
萩原 康司
, 金本 哲男
, 亀谷 美明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-064781
公開番号(公開出願番号):特開2005-294819
出願日: 2005年03月09日
公開日(公表日): 2005年10月20日
要約:
【課題】 本発明は,ガスと液体とを内部で混合し,液滴をガスと共に噴射して基板を洗浄する基板洗浄用2流体ノズルにおいて,液滴の粒径と速度を均一化させることを目的としている。【解決手段】 基板洗浄用2流体ノズル5において,ガスを供給するガス供給路21と,液体を供給する液体供給路22と,内部で形成した液滴を導出する導出路23を備え,導出路23の先端に,液滴を外部に噴射するための噴射口24を形成し,噴射口24の断面積Sbを,導出路23の断面積Saより小さく形成し,かつ,ガス供給路21の出口の断面積Scを,導出路23の断面積Saより小さく形成した。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
ガスと液体とを内部で混合し,液滴をガスと共に噴射して基板を洗浄する基板洗浄用2流体ノズルであって,
ガスを供給するガス供給路と,液体を供給する液体供給路と,内部で形成した液滴を導出する導出路を備え,
前記導出路の先端に,液滴を外部に噴射するための噴射口を形成し,
前記噴射口の断面積Sbを,前記導出路の断面積Saより小さく形成し,かつ,前記ガス供給路の出口の断面積Scを,前記導出路の断面積Saより小さく形成したことを特徴とする,基板洗浄用2流体ノズル。
IPC (2件):
FI (3件):
H01L21/304 643C
, H01L21/304 643A
, B05C11/08
Fターム (19件):
4F033QA09
, 4F033QB02Y
, 4F033QB03X
, 4F033QB13Y
, 4F033QB15X
, 4F033QC04
, 4F033QD04
, 4F033QD14
, 4F033QE06
, 4F033QE08
, 4F042AA07
, 4F042BA03
, 4F042CC04
, 4F042CC09
, 4F042DA01
, 4F042DF09
, 4F042DF32
, 4F042EB09
, 4F042EB17
引用特許:
出願人引用 (2件)
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基板処理装置および基板処理方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-394445
出願人:大日本スクリーン製造株式会社
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特許第3315611号公報
審査官引用 (4件)