インピーダンス測定システムおよびインピーダンス測定方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：酒井伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-337362
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139805
出願日： 2001年11月02日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
要約：

【要約】【課題】環状接続された複数の電子部品のインピーダンスを短時間で測定する。【解決手段】ネットワーク素子NC1内のコンデンサC1〜C8のうちの複数をLCR測定装置1-1,1-2に接続してその容量を同時に測定するシステムであって、各電極T1〜T8に接触させられたプローブP1〜P8から制御信号Scに従っていずれかのプローブを選択してLCR測定装置に接続するスキャナ装置11を備え、スキャナ装置11は、コンデンサC1と他のコンデンサC5との間に接続されるコンデンサの数が2つ以上となる接続条件を常に満たすように各プローブを各LCR測定装置に接続し、かつコンデンサC1,C5以外のコンデンサが2つ以上連続して接続されている部位における電極の1つをグランド電位GLに接続し、測定装置は、スキャナ装置11によって接続処理が実行された後にコンデンサC1,C5の容量を測定する。

請求項（抜粋）：

環状接続された6つ以上の電子部品のうちの複数を測定対象電子部品として当該複数の測定対象電子部品の各々に測定装置をそれぞれ接続してその各インピーダンスを同時に測定可能なインピーダンス測定システムであって、前記各電子部品同士の各接続点にそれぞれ接触させられた複数のプローブから制御信号に従っていずれかのプローブを選択すると共に当該選択した各プローブと前記複数の測定装置とを接続する選択接続装置を備え、前記選択接続装置は、前記制御信号に従い、任意の1の前記測定対象電子部品と他の任意の1の前記測定対象電子部品との間に接続される前記電子部品の数が2つ以上となる接続条件を常に満たすように前記各プローブを前記各測定装置にそれぞれ接続し、かつ前記測定対象電子部品以外の前記電子部品が2つ以上連続して接続されている部位における当該各電子部品同士の接続点の少なくとも1つに接続されている前記プローブを前記基準電位に接続する選択接続処理を実行可能に構成され、前記測定装置は、その出力部が前記測定対象電子部品の一端に接続されて当該測定対象電子部品に測定用信号を出力する信号出力部と、基準電位に仮想接地された入力部が前記測定対象電子部品の他端に接続されて当該測定対象電子部品に流れる電流を検出する電流検出部と、前記測定対象電子部品の両端電圧を検出する電圧検出部と、前記検出した電流および両端電圧に基づいて前記測定対象電子部品のインピーダンスを算出するインピーダンス算出部とを備えると共に前記選択接続装置によって前記選択接続処理が実行された状態において前記測定対象電子部品のインピーダンスを測定可能に構成されているインピーダンス測定システム。

IPC (2件)：

G01R 27/02 , G01R 27/26

FI (2件)：

G01R 27/02 A , G01R 27/26 C

Fターム (9件)：

2G028AA01 , 2G028AA02 , 2G028BB06 , 2G028CG08 , 2G028DH05 , 2G028FK01 , 2G028FK02 , 2G028GL07 , 2G028HN10

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭60-166871
特開昭60-166871
特開昭61-029774

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